随着我国航天事业的发展,高密度集成电子器件在航天器的研制中被大量使用。然而随着器件集成度的提高和工作电压的降低,空间辐射环境对电子系统的影响越来越多。空间辐射环境对电子系统的损害最主要的是单粒子效应(SEE)。它们会使器件失效或者工作状态发生改变,影响电子设备的可靠运行,因此有必要研究依靠自身的技术解决这些问题的方法。IP技术是近年来发展极为迅速的一种技术,并且已广泛的应用工业生产、航空航天等等行业。IP技术具有的灵活、易实现的特点决定了它作为提高电子设计可靠性的一个重要方法。IP软核作为IP技术实现的一个重要途径,具有可裁剪、灵活定制以及可方便构成片上Soc系统的特点,在航天工业中己得到广泛应用,因此,有必要对IP软核的容错技术做专门研究。本文的主要工作是在开源MC8051IP软核的基础上研究并实现针对SEE的高可靠性8051IP软核。本文采用TMR、EDAC等技术对原MC8051IP核进行了加固定制。并且对加固后的IP核进行了软件仿真及硬件电路测试,实现了一个可用于实际设计的高可靠性8051IP软核。