随着数字集成电路规模越来越大,设计越来越复杂,验证的难度也随之增加,设计新加一项功能,验证增加不止一条测试案例,实际项目中验证所占时间更是高达整个项目研发周期的70%,搭建高效的验证平台,开发优秀的验证环境,成了当前集成电路设计工作的重要任务。目前双界面卡的应用在国内乃至国际迅猛发展,已经证明了双界面卡应用的美好前景。本文就双界面卡中符合ISO/IEC14443协议的非接触射频通讯接口模块验证提出的一种更高效的验证方法,即在传统的基于VMM采用随机约束激励的验证平台中,加入高抽象语言SystemVerilog搭建的参考模型,参考模型提供的黄金响应使得对DUT功能正确性的判定变得更加简单高效,参考模型的加入也使得注入错误的验证得以轻松实现,在验证平台中加入参考模型大幅提高了验证效率,同时也提高了验证平台的可重用性能、可移植性,缩短了芯片研发周期。本论文首先介绍阐述了VMM验证方法学,之后介绍ISO/IEC14443通讯协议以及DUT的RTL设计规范,随后将传统验证平台与参考模型验证平台做出比较说明。本论文中,重点工作是设计编写射频通讯接口的参考模型,论文中重点介绍说明了参考模型设计方法以及代码结构,参考模型设计编写完成后,嵌入到传统的验证环境中,进行前端RTL仿真,仿真结果表明,在传统验证环境中加入参考模型能提高验证的覆盖率。