人们对通信速度与质量的要求日益增高促进了光纤通信的高速发展,各种PON(无源光纤网络)与FTTH(光纤到家庭)的铺设越来越广泛,使得应用于光纤网络的无源光器件用量激增。因此无源光器件损耗参数的测量手段和效率变得愈发重要。本文基于ARM处理器设计的光无源器件综合参数测试系统主要就是针对光纤通信中各个光节点存在的无源器件的偏振相关损耗和回波损耗进行高效测量。本文主要从以上两种损耗参数出发,对其产生原理以及测量方法进行了深入研究,在现有的测量方法的基础上提出了一定改进。论文首先对偏振光的特征及其理论进行了介绍,概述了偏振控制器的研究进展,对光纤挤压型电动偏振控制器进行了研究;其次着重分析了光电探测器和微弱信号放大电路的设计,为设计出高信噪比的前置放大电路提供了理论依据。根据课题的要求,为提高测试系统的模块化与集成度,对硬件电路采用模块化设计。系统采用可控制DFB光源,利用ARM处理器控制输出光偏振态,采用高信噪比放大电路对光电探测器转换后的光电流进行处理,通过ARM芯片自带的A/D采集处理后信号并转换为光功率大小的数值量,然后再转换为两种损耗参数值,最后用自适应加权数据融合算法进行进一步处理。为满足硬件电路的模块化设计,针对测试系统特性设计了上位机软件和下位机软件。上位机主要用于控制测试参数的选择,实时显示结果;下位机主要完成通道的切换。最后搭建实验平台,对测试系统进行验证,从实验的数据结果看达到了系统设计要求。