超薄Fe膜(4(?))的极化中子反射研究

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本工作利用分子束外延薄膜生长技术,制备了200(?) V/4(?) Fe/900(?) V/MgO(100)薄膜样品,并同时利用X射线反射谱仪和极化中子反射谱仪两种测量手段精确获得了薄膜的表面、界面及各层膜厚的相关结构信息。此外,利用极化中子反射技术,研究了超薄铁膜磁特性,并通过变温测量,得到了薄膜磁特性随温度的变化情况。通过该工作,熟悉了薄膜样品的常用制备方法,掌握了利用反射技术研究薄膜结构及相关特性的测量方法,并对反射测量数据的分析处理方法和程序有了较为全面深入的理解,为今后利用即将在中国原子能
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