自从第一只半导体晶体管面世以来,以半导体技术为基础的集成电路就开始迅猛的发展起来.这种势头至今非但没有减弱,反而更加快速向各个领域渗透,创造新的领域,直接改善人类的生活和行为.随着集成电路产业的发展,集成电路测试也变得越来越重要.该文首先介绍了集成电路测试的意义与发展历程,然后讲述了数字集成电路测试的相关理论,并根据用户实际生产测试的要求,研制出一套数字集成电路测试系统,用于军用PMOS集成电路的逻辑功能测试和直流电参数测试.该文研制的智能化测试系统采用通用计算机管理整个系统,测试系统硬件由下位机直接控制的两级式结构,充分发挥上下位机两个软件层的优势和特点.总线支持的模块化硬件结构使得系统具有良好的升级、扩充性能,并提高了系统的可靠性.该文对通道板、精密测量单元板等部分的设计和优化进行了详细的阐述.通道板的测试向量施加通道采用了电容耦合的方法.精密测量板的加电测量结构通过Kelvin接法提高了系统的测试精度,通过线性保护的方法提高了系统的稳定性,可精密施加、测试微小电流以及较宽范围内的正负测试电压.下位机软件采用模块化的编程技术,使得调试方便,且便于软件的维护和扩展.该系统可通过在软件中增加存储的测试图形来测试可测电平范围内的其它数字集成电路,具有智能化、高效率、低成本、可测电平范围较宽的特点.最后,通过对数据的分析,表明测试系统性能良好.