电子器件的热性能分析已成为传热技术的一个主要分支.随着电子技术和计算机技术的飞速发展,电子工业部门对其产品的检测和热分析提出了更高的要求.测量电子器件的表面真实温度分布对于了解电子器件的热特性,改进电子器件的热设计和提高可靠性都有非常重要的意义.该文通过对固态继电器的表面辐射温度分布的测量和发射率的校正计算,提出测量辐射温度求得真实温度的处理方法,并配置了电子器件热辐射特性测试分析系统,包括软件和硬件.从热像仪获得的热像图,分别用两种方法处理后,获得了真实温度分布和发射率分布.第一种方法是通过处理已知表面温度的器件的图像来求得发射率分布,再根据发射率分布和测量的辐射温度来计算真实温度.第二种方法是通过分析一系列忆知表面温度的器件的热像图,求得辐射温度与真实温度的关系曲线,而回避讨论发射率,直接由测量的辐射温度温度来求得真实温度.该文对误差进行了分析,处理结果是令人满意的.该文利用TVS-5000型红外热像仪的显微成像系统对红外景象投射器电阻加热微桥阵列进行测试.该文检验了该器件的辐射特性,包括辐射射温度与控制电压的关系曲线、控制电压与微桥电流的关系曲线、电阻单元的辐射功率以及它的动态特性等.通过该文工作,对器件的热辐射性能作出了评价,并提出了改进该器件性能的建议.该文开发了适用于TVS-2000,TVS-5000,TVS-8000型三种系列的红外热像仪的对电子器件和其他测试对象热辐射特性的处理软件.该软件扩展了热像仪的图像处理功能,可以使用户更有效地应用热像仪.