集成电路(Integrated Circuit,IC)产业包括设计、制造及测试,其中IC测试在集成电路产业中起着决定性作用。IC测试系统作为IC测试的关键技术,主要用于测量IC的电气参数,以确保芯片良好。因此,研制高性能的IC测试系统对整个集成电路产业的发展具有重要意义。论文从IC测试技术的发展入手,介绍了IC测试系统的国内外发展现状。基于模块化的设计原则,研究了IC测试系统的软件平台和硬件架构。在整个系统的硬件架构中,重点研究了数字化仪(DIG)功能模块的设计与实现,主要内容如下:1、介绍了IC测试技术的发展状况和IC测试系统在国内外的研究现状,并阐述了课题来源与意义。2、根据IC测试系统的设计指标,研究与设计了IC测试系统的软件平台和硬件架构,详细阐述了硬件架构各个功能模块的设计原理和实现方案。3、重点研究与实现了数字化仪(DIG)硬件电路设计。详细阐述了硬件电路中差分接收电路、抗混叠滤波电路、可编程增益放大器电路、模数转换电路、FPGA配置电路等模块,并完成各个模块的调试工作,分析误差源并实现校准。4、完成数字化仪的驱动设计,包括测试函数驱动设计和硬件电路驱动设计,在VC++6.0中完成测试驱动函数的设计。在Xilinx FPGA平台上实现硬件电路中逻辑代码设计,主要包括FIFO、SDRAM、ADC和DAC控制器的逻辑驱动设计。5、完成了IC测试系统的软件平台——图形用户界面(Graphic User Interface,GUI)的设计,详细阐述了GUI界面的生产模式界面设计实现。