氧化钇部分稳定氧化锆（Yttria-stabilized Zirconia,YSZ）是目前航空领域使用最多的热障涂层材料之一,但是高温时易被一种主要成分为CaO、MgO、Al2O3、SiO2（CMAS）的高温熔盐腐蚀,因此如何提高YSZ抗CMAS腐蚀性能成为其应用过程中急需解决的关键问题。本文采用分子动力学和第一性原理相结合的方法,探索了不同晶体取向的YSZ晶核界面形成能力,阐述了YSZ不同晶粒形貌的生长能力差异机制;通过设计不同成分的CMAS模拟实验,基于接触角、扩散系数、吸附功、态密度等参数计算,从扩散动力学和电子结构两方面揭示了CMAS腐蚀YSZ的元素影响机制,得到以下结论:（1）YSZ的晶粒生长速率随温度增加呈先增加后下降的趋势,生长速率和环境温度的关系符合Wilson-Frenkel模型。对比YSZ（010）、YSZ（001）、YSZ（110）和YSZ（111）四种晶核界面的生长演变规律,发现在1600K～3000K的环境温度范围内,2600K（YSZ的熔点2953K）是各晶核界面的最佳生长温度值。虽然生长速率变化趋势为v YSZ（001）＞v YSZ（110）＞v YSZ（010）＞v YSZ（111）,但是它们的具体数值相差不大,这种各晶面生长速率相近的趋势表明YSZ较容易形成等轴晶。晶核生长界面形貌分析,发现晶核界面生长速率最快的YSZ（001）(5.4 m*s-1)生长界面呈锯齿状,比YSZ（010）、YSZ（110）和YSZ（111）的平面状生长界面具有更好动力学性能。YSZ（001）生长速率最快,为把YSZ热障涂层制备成抗CMAS腐蚀性能更好的柱状晶提供了方便。（2）通过计算CMAS各成分CaO、MgO、Al2O3和SiO2熔滴在YSZ（010）晶粒表面的润湿动力学过程,发现它们扩散过程呈各向同性特征,并都表现出润湿特性。四种成分的熔滴平衡润湿角分别为20.3°、26.2°、40.2°和44.6°。润湿性最好的CaO熔滴扩散面积值（5059（?）~2）是润湿性最差的SiO2熔滴（2275（?）~2）的2.2倍,这是由于CaO熔滴的Ca离子平均扩散系数DCa最大。各成分熔滴与YSZ（010）晶粒表面的相互作用能变化趋势为（6）＜2＜723)＜42),表明CaO熔滴的润湿性最好除了它更容易扩散外,它与YSZ（010）晶粒表面吸附性(ECaO=-422.6e V)也最强。CaO/YSZ（010）润湿形貌分析发现,高温环境下YSZ基体表面Zr原子与Ca原子存在互溶现象。因此各成分影响YSZ抗CMAS腐蚀性能的主要影响因素为CaO。（3）通过设计一系列成分含量CMAS腐蚀YSZ（010）晶面模拟实验,发现接触角θ最小的CMAS成分含量为Ca6Mg2Al1Si6O22,即CaO含量最多,此时的接触角为68.0°,润湿性最差的是Ca0Mg4Al4Si4O18（θ=151.5°）,表明CaO是影响CMAS润湿YSZ（010）晶面的主要因素。同时,Ca6Mg2Al1Si6O22/YSZ（010）的吸附功也最大。电子态密度计算结果表明,CMAS各元素中Ca原子在反键区具有最大的反键峰强度以及最多的自由电子数,分别为5.9902 electrons/e V和7.3693electron/e V,同时反键峰的位置与YSZ中Zr原子的反键峰重合度较好,表明Ca与Zr之间较易发生化学反应,产生互溶现象。此外,相比较其他成分的CMAS润湿模型,Ca6Mg2Al1Si6O22/YSZ（010）界面模型在-50 e V附近和-28 e V成键峰更强,同时表现出劈裂成键峰,表明Ca6Mg2Al1Si6O22/YSZ（010）的稳定性更高。