边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。本文基于IEEE 1149.1标准剖析了JTAG边界扫描测试的精髓，分析了其组成，功能与时序控制等关键技术。 应用在FPGA芯片中的边界扫描电路侧重于电路板级测试，兼顾芯片功能测试，同时提供JTAG下载方式。针对在FPGA芯片中的应用特点，设计了一种边界扫描电路，应用于自行设计的FPGA结构之中。除了基本的测试功能外，加入了对FPGA芯片进行配置、回读以及用户自定义测试等功能。 通过仿真验证，所设计的边界扫描电路可实现FPGA芯片的测试、配置和回读等功能，并符合IEEE 11491.1边界扫描标准的规定，达到设计要求。