随着集成电路测试技术的不断发展,瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注。瞬态电流测试产生需要一次产生多个向量(两个或两个以上),测试产生算法比较复杂,耗时较多,因此研究高效的测试产生算法具有重要的意义。论文首先阐述了数字电路测试的发展情况以及数字电路测试的基本理论与方法,并对现有的数字电路测试产生算法进行了总结。接着,针对电路的开路故障,提出一种基于混沌搜索的IDDT测试产生算法。该算法充分考虑了电路的拓扑结构,利用FAN算法的反向蕴含模块激活故障,采用混沌搜索实现瞬态电流差别最大化。该算法在保证一定故障覆盖率的同时有效地降低了测试产生时间。SPICE模拟试验结果表明,该算法用于瞬态电流测试产生是可行的。随后,针对IDDT测试产生算法搜索空间较大的问题,提出了一种电路划分策略。该策略通过分析电路故障信号在电路中传播的过程,找到影响故障信号传播的三类节点,并由此找到控制这些节点逻辑值的输入端,从而剔除对传播故障信号没有贡献的原始输入,减小了搜索空间。最后,针对组合电路给定的测试向量集,设计了一种无关位识别器。对于一个给定的测试集,将有些原始输入置换成相反的逻辑值不会改变故障覆盖率。通过对故障传播路径的分析和对ATPG算法中蕴含和确认模块的改进,实现了对这样原始输入的识别。实验结果表明,约有26%的原始输入可置为0或1。找到尽可能多的这样的原始输入,对降低测试功耗,测试集压缩都有显著意义。