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本文主要研究外界环境温度的变化对光源稳定性的影响，及由此导致的光纤陀螺输出的变化。介绍了SLD光源驱动及自动温度控制的原理。并从热学角度提出了光源合理的热结构。 从热学的角度分析了温度测控系统的各个传热过程，计算出半导体制冷器的设计参数，给出了强化或削弱相应传热过程的措施，为下—步设计奠定了理论基础。 以AT89C51为核心自行搭建了用于测试光学器件温度性能的温度测控平台。这个测控平台主要包括一个制冷系统和一个测控系统，覆盖了电、机、热、算等多个领域的知识。论文详细给出了该平台的设计思想、设计步骤和设计结果。 最后介绍了光源热性能测试的测试条件、测试原理、测试步骤、测试参数和测试目的。通过实验获得了光源出纤功率、制冷电流随温度变化的数据，找到了调放大倍数这一稳定光源出纤功率的办法，并分析了实验误差，提出了改进意见。