毫米波宽频带低损耗介质复介电常数测试技术的研究

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随着通信和电子对抗的日益发展,带动了高性能电介质材料的研究与开发。然而如何在微波毫米波段快速且高精度地完成材料电参数的测试,是材料和电路设计者们十分关心的课题。 本文首先介绍了目前材料的复介电常数常用测试方法,然后分析了选用TE0ln高Q腔法,应用模式净化和腔体优化技术,设计了毫米波宽频带一腔多模测试腔,并成功地解决了测试中模式识别和搜索技术。根据测试原理设计了宽频带自动测试系统。 本文最后还进行了测试系统的稳定性和重复性进行了实验分析。 通过测试结果和理论分析表明,测试系统能到达的技术指标和测试误差分别为: 测试频段:26.5~40GHz 测试材料的范围为:ε′=2~8 tanδ=2×10-4~5×10-3 测试系统的误差为:|△ε′/ε′|≤2% |△tanδ|≤12%tanδ+5×10-5
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