如今，集成电路的市场主要集中在消费电子、计算机以及通信三个领域。在这些领域的应用中，随着消费者对性能要求的提高，直接导致了设计复杂度的增长，验证的难度也变得越来越大。据统计，在整个产品开发周期中验证的时间往往要占到70％左右。不仅如此，相对于芯片集成和设计能力的发展速度而言，验证的发展是比较滞后的，直接导致了目前业界普遍存在的低芯片流片信心度及漫长的开发周期。因此，关于验证方法学的研究以及验证工具的开发得到业界广泛的重视。　　本文通过对UVM验证方法学及基于状态机的分析模型原理进行研究，主要进行了以下两方面工作:1)基于状态机模型的验证平台实现;2）由状态机生成测试向量的高效生成算法研究。　　在“基于状态机模型的验证平台实现”这一部分内容中，本文主要做了两个方面的工作:1）状态机的图形用户界面(GUI)的开发;2）利用图形用户界面所绘制的状态机图形生成与之相关的具体的验证平台。通过完成这一部分的工作，不仅便利了验证工程师绘制自己想要的状态机图形，而且图形用户界面可以根据验证工程师绘制的状态机图形自动生成与之相关的具体的验证平台，这样就大大减少了验证工程师后续的重复性工作和维护文档所需要的时间。　　在“由状态机生成测试向量的高效生成算法”这一部分内容中，课题主要做了如下工作:在借鉴参考文献[6]的基础上，对其中的算法进行了改进，并对算法实现的功能进行了扩展，主要实现的算法功能包括:　　1)找出状态机图形中的覆盖集;　　2)找出状态机图形中的最小遍历集、环路径集和所有路径集。