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CCD在机器视觉，空间遥感等众多领域充当了核心角色，其性能在很大程度上决定了整个系统的应用性能。实际应用中针对航天级CCD进行性能测试时，发现已有的测试方法只是停留在测试标准层面，测试系统也不具有通用性。因此，本文在研究CCD光电参量测试方法并对测试流程进行相应描述的基础上，搭建了一套通用的测试系统，实现对CCD芯片光电参数的精确测试。首先，在研究CCD芯片3D噪声的基础上，分析了包括光响应非均匀、信噪比等光电响应参数测试方法和包括相对光谱响应度、峰值波长等光谱响应参数测试方法，并对测试流程进行了相应的描述。在此基础上，设计了一套通用的CCD光电参数测试系统。辐射光源设计为双积分球等色温连续调光系统，单色光源实现了200nm-2500nm宽波段高分辨率单色波长输出；测试软件以自上而下整体设计+自下而上分模块实现设计理念为指导，采用VB.NET+Matlab语言混合编写而成；经测试，辐射光源中心40mm×40mm区域辐照度非均匀性达到了0.87%，满足应用需求。最后，以SONY ICX285面阵CCD芯片为例，应用两种噪声提取算法计算了信噪比，并进行理论验证；采用单色仪法进行光谱响应参数测试，并建立不确定度评估模型对测试结果的不确定度进行全面评估；另外还对上述噪声以及其他光电参量进行了测试。目前所设计系统已应用于某星敏感器核心成像器件面阵CCD的测试，在性能上较好的满足了测试需求。