随着集成电路的制造工艺越来越发达,传统的探针式故障检测方法已经完全不能满足这类电路板的故障检测要求,边界扫描测试技术就是为了解决VLSI等大型复杂电子器件而提出的,但是传统的边界扫描测试技术也随着集成电路的发展而显得不足,本文分析了目前边界扫描测试技术的应用,再结合复杂数字电路板的特点,分析得出目前边界扫描测试技术在复杂数字电路板的应用中有扫描链路太长,测试效率低,测试覆盖率低等缺点和不足,因此为了更好地满足现阶段和以后复杂数字电路板的故障检测要求,本文根据这些缺点和不足,本文以复杂数字电路板边界扫描测试技术为研究课题,提出了一种适用于复杂数字电路板的边界扫描测试技术,主要研究内容有:1、提出了一种新的扫描链路设计方法。本文针对目前设计上存在的缺点提出了“分治法”的扫描链设计方法,该方法通过将复杂数字电路板上的芯片进行分类分区处理,得到主扫描链和次级功能扫描链,在主扫描链的扫描测试中得到次级功能扫描链的扫描区域,然后再对次级功能扫描链进行扫描测试,最终将故障定位,得到整个复杂数字电路板上存在的故障信息。2、设计并实现边界扫描控制器。本文对目前边界扫描控制器的设计方法进行了分析和比较,发现目前设计方法中,存在数据传输速度收到接口的限制,方法编程量大,系统复杂等缺点,本文在总结了这些缺点之后,使用FPGA加SN74ACT8990总线控制芯片来设计边界扫描控制器,该控制器结合了FPGA的数据处理能力,同时由于使用了现有的总线控制芯片,使系统设计简单,极易产生JTAG总线信号来进行边界扫描测试。3、设计并实现边界扫描软件界面。在完成边界扫描测试系统的硬件部分之后,本文针对文中所设计的扫描系统测试方法,设计了边界扫描上位机控制软件,软件中包括的功能有:测试向量的自动测试、测试故障的信息显示、测试电路的选择和电路板故障器件的信息显示等。本文还通过上位机软件界面对边界扫描测试系统进行了功能验证,证明文中所设计的边界扫描控制器和扫描链的可行性。