论文部分内容阅读
随着计算机、微电子和自动化技术的快速发展,嵌入式片上系统(SOC)的智能控制已成为近几年人们研究的热点,并得到了广泛应用。其中将微控制器应用在测量仪器中,被人们认为是SOC应用发展中最有发展前景的。本文在分析Silicon Labs公司生产的C8051F系列微控制器功能及资源的基础上给出了使用C8051F340微控制器控制多步进电机协调工作的设计并将此应用于光谱测量仪中。近年来利用微控制器来控制步进电机的应用非常普遍,但使用多微处理器应用于荧光光谱仪中很少。使用多微处理器可以实现测量过程中机械