随着集成电路在日常生活中的广泛应用，集成电路测试作为保证产品质量的重要环节，越来越受到人们的重视。然而随着集成电路规模增大，集成度不断提高，测试变得非常困难，测试成本越来越高。因此，降低测试成本，并且实现对集成电路低功耗测试将变得尤为重要。多扫描子链测试技术很早就被提出来并广泛应用，其中扫描链阻塞技术是目前比较流行的技术之一。扫描链轮流捕获技术是在扫描链阻塞技术的基础上，增加了故障被检测的机会，进一步降低了测试功耗。扫描链阻塞技术有效地降低了测试功耗，但是测试应用时间较长，从而导致测试费用增加。为了解决这一问题，本文提出一种基于扫描链阻塞技术的低费用方法。该方法利用了测试向量之间的相容性，降低测试应用时间。其实现方法是：将被测电路中需要施加的测试向量，进行相容性计算。通过对前一个测试向量的后半段和后一个测试向量的前半段的相容位进行压缩，以达到扫入扫描链数据量的减少。实验结果表明该方法有效地减少测试应用时间，并且不需要额外的硬件代价。其次，本文提出一种基于扫描链轮流捕获技术的扫描单元重排序方法。该方法通过将捕获同一故障的不同扫描单元重新排列到不同的扫描子链中，以增大故障捕获的概率。在该方法中，我们首先构造一个无向图，其中扫描链中的扫描单元作为节点，如果两个节点之间能够共同检测故障，则存在边相连。其中，扫描单元之间能够共同检测的故障数看成连线的权值。将增大故障捕获概率问题转化为求无向图最大割的问题，进而利用一种贪心算法求解。实验结果表明，该方法有效地减少了测试向量的个数，进而减少了测试应用时间，并降低测试功耗。