全面评价多光谱TDICCD(Multi-Spectral Time Delay Integration Charge Coupled Device,简称为多光谱TDICCD)器件光电性能必须需要多光谱TDICCD测试电路。测试电路的性能,尤其是噪声水平,会影响CCD器件的参数指标测试结果,因此需要进行测试电路的研制。本论文针对满足多光谱TDICCD全参数测试问题,以低噪声水平测试电路为主要的研究重点,对系统结构方案、电路硬件及软件设计、参数测试方法进行了详尽的讨论和研究。主要内容为:1.系统结构方案设计。根据多光谱TDICCD参数测试的指标要求,从降低功耗、减少电磁干扰,降低噪声、优化系统体积等方面出发,从硬件及软件考虑了其参数、结构、可靠性及适用性,确定了测试电路的结构及实现方案。2.电路硬件设计。对测试电路进行了硬件需求的分解,将其划分为CCD芯片、时序逻辑电路、驱动电路、电平调节电路、信号处理电路、数据传输及采集电路,并分别进行了选型和设计。3.电路软件设计。为满足多光谱TDICCD全参数测试需求,进行了FPGA和单片机软件设计编程。4.参数测试。针对测试参数指标进行测试方法研究,完成计算机测试软件设计与编程,对测试电路及CCD器件参数进行了测试。本论文研制的测试电路,很好的完成多光谱TDICCD的光电性能全面评价,推动了多光谱TDICCD技术的顺利发展。