随着集成电路深亚微米制造和设计技术迅速发展,系统级芯片(SoC)技术的应用大大降低了昂贵的设计和制造成本,但对于测试来说却变得更为复杂,测试时间越来越长,测试成本也越来越高。SoC测试中,在同一时间内对多个 IP核进行并行测试是减少总测试时间的有效方法。芯片上的IP核有大有小,各IP核所需要的测试数据端口数目也有多有少,但片上的测试总线数目一定。因此,可以将几个较小的IP核分配到不同的测试总线上,允许它们同时进行测试,这就需要在SoC设计中进行测试调度。但是无限制的多IP核同时工作,使芯片瞬时功耗加大,可能造成测试芯片的损坏。　　本文研究了SoC测试调度优化方法,在此基础上对基于测试总线的测试访问机制策略进行分析,并以缩短 SoC测试时间为目的,建立基于粒子群算法功耗约束下的SoC测试调度数学模型。结合测试调度优化问题,通过实验确定算法中各个参数的最优值。为了弥补粒子群算法易陷入局部最优解的缺点,引入具有量子行为的粒子群算法。然后建立相应的数学模型,提出基于量子粒子群算法功耗约束下的SoC测试调度优化设计方法,并调整收缩扩张系数β。　　最后,本文以ITC’02 Test Benchmarks电路为实验对象,分别设计了基于粒子群算法和量子粒子群算法的SoC测试调度优化流程,并进行实验仿真。实验结果表明在解决功耗约束下的SoC测试调度优化问题上量子粒子群算法与已有算法相比,不仅能够更好的达到缩短SoC测试时间的目的,而且算法收敛速度快,需要调整的参数少,实现简单。