TD-LTE技术因其突出的性能和成本优势,在全球范围内快速发展,并形成完整的TD-LTE产业链。终端综合测试仪,是该产业链中重要的一环,对TD-LTE终端的研发、认证和维护有举足轻重的作用。本论文基于TD-LTE终端综合测试仪表项目,依据终端射频一致性测试规范,设计并实现测量项目,完成TD-LTE终端功率控制能力测试。本论文主要内容如下：一、介绍本课题的研究背景,在此基础上提出本课题的研究目的及意义,并概述论文的主要内容和基本结构。二、对TD-LTE终端射频一致性测试规范做简单阐述,归纳本课题涉及的测试项内容,并介绍本课题的研发平台-TD-LTE终端综合测试仪的软硬件架构。三、详细分析TD-LTE的功率控制原理,包括下行功率分配原理,PUSCH. PUCCH. PRACH和SRS的功率控制原理。四、设计与实现最小输出功率、开关时间模板、绝对功率容限、相对功率容限和集合功率控制容限五个测量项目,包括需求分析、接口和关键算法设计、测量流程设计等内容,并从功能和效率两个方面对设计结果进行性能分析。五、总结全文,并展望本文未来的研究方向。本论文设计的测量项,可以支持用户对信道类型、上行分配的资源块数目、终端功率状态及高层协议参数等灵活配置,并支持在用户自选的测试场景下完成终端功率控制能力的测量工作,大大扩展了协议规定的测量项功能。本论文研究成果,己应用于商用TD-LTE终端综合测试仪中,并为多款终端提供性能测试。