电连接器是航天设备和武器系统中不可或缺的电子元器件,负责电信号的传输,装备系统对电连接器提出的功能要求包括接触性能、绝缘性能和密封性能完好,目前大多数研究均聚焦于电连接器接触性能和绝缘性能的可靠性开展,对于密封性能的研究很少涉及。若电连接器密封件发生失效,会使其抵御环境能力变差,难以满足装备系统提出的功能要求和可靠性要求,本文以电连接器用聚氨酯胶密封件为研究对象,开展贮存环境下密封件的性能退化规律和寿命评估研究,具体的研究内容如下:通过分析电连接器的贮存剖面,得出贮存环境下聚氨酯胶密封件受到的主要环境应力为温度和湿度,失效具体表现为内聚失效和边界失效共同引起的氦气泄漏率超过阈值。分析了温度、湿度等环境应力影响聚氨酯胶密封件在贮存环境下失效的原因,从微观层面揭示了聚氨酯胶内部大分子基团氧化和水解是聚氨酯胶密封件性能下降的内在机制。基于电连接器用聚氨酯胶密封件的失效机理,通过分子动力学和质量守恒定律,建立了聚氨酯胶密封件性能退化速率与温度、湿度之间关系的失效物理方程,并将温度、湿度引入到密封件弹性体应力松弛中,建立融合温度和湿度等环境应力的聚氨酯胶密封件应力松弛数学表达式。分析聚氨酯胶密封件内聚破坏和边界粘接破坏产生的原因,基于气体泄漏理论和牛顿粘性力学,建立了结合内聚破坏和边界破坏的氦气泄漏率数学表达式。结合失效物理方程,建立了融合温度和湿度的电连接器用聚氨酯胶密封件的性能退化轨迹模型和可靠性统计模型。通过响应曲面设计确定试验方案,按试验方案开展试验,收集聚氨酯胶密封件的试验数据,利用粒子群算法对所建的可靠性统计模型未知参数进行估计,并利用试验数据对性能退化轨迹模型和相关分布进行统计检验。通过分析聚氨酯胶密封件的性能退化轨迹模型和可靠性统计模型,得出贮存环境下密封件性能退化速率随温湿度应力增大而加快,随厚度的增大而减缓,温度对聚氨酯胶密封性能影响最大,湿度次之,厚度最小。在贮存环境下电连接器用聚氨酯胶密封件性能退化速率呈现先慢后快的趋势。最后评估了电连接器密封件可靠寿命,满足型号系统对电连接器提出的贮存寿命要求。