随着科技的发展，越来越复杂的印刷电路和多层板在现代电子应用系统中得到了非常普遍的应用。这使得芯片引脚在数量和密度上不断的提高，在带来高性能的同时，也带来了许多问题，如此一来，测试技术就发挥着非常重要的作用。边界扫描测试技术的测试的效率有着非常简单的控制逻辑，而且测试效率非常高。作为一种新的技术，边界扫面测试技术已经取代了传统的探针技术，得到了测试界在全世界范围内的支持和认可。本文对边界扫描测试原理进行了较为深入的研究，对电路板互连测试的内容和相关方法进行了具体分析，对传统测试向量生成算法进行实验和比较，并提出了新的测试算法，并在此基础上，开发出一套边界扫描测试系统。系统实现了自动分析边界扫描描述语言文件以及网表文件的功能，能够自动生成扫描链路；根据一定的测试算法生成测试向量，并且通过边界扫面控制器把测试向量加载到被测电路板上，然后边界扫描控制器再把响应向量反馈回来，软件可以分析响应向量，最后显示出测试结果。