由于兼具低成本、高密度、高性能和配置灵活等特点,SRAM型FPGA在航空航天、通信等领域应用广泛。相较于其他逻辑器件,SRAM型FPGA对空间高能粒子十分敏感,更容易发生单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)。因此当应用于高可靠性要求的场景,尤其是应用于航空航天等空间辐射环境中时,对SRAM型FPGA进行抗SEU测试评估很有必要。本文利用FPGA部分重配置技术和ICAP(Internal Configuration Access Port)总线,实现了一种基于Zynq 7000系列芯片的SEU故障注入测试平台。相较于其他故障注入方法,本文采用的方法与实际运行场景高度一致,不需要增加额外设备,时间开销小,同时还具有高可控性和高可观测性,可以对运行在SRAM型FPGA上的模块进行快速、低成本的SEU故障注入测试。本文首先介绍了通过ICAP总线对SRAM型FPGA进行SEU故障注入的原理,然后介绍了本文构建的SEU故障注入测试平台的结构和故障注入测试流程,最后使用上述平台对Viterbi译码器和采用LOG-MAP算法的Turbo译码器进行用户存储器(User Memory,UM)和配置存储器(Configuration Memory,CM)的故障注入测试。通过对Viterbi译码器和Turbo译码器的故障注入测试,充分验证了平台的有效性。同时,Viterbi译码器和Turbo译码器都是在无线通信领域应用广泛、具有容错纠错能力的译码器。因此针对两种译码器进行的SEU故障注入测试,可以准确评估译码器的抗SEU性能,同时对译码器容错方案设计有重要的指导意义。