颗粒复折射率光谱在颗粒材料辐射特性研究中是一个非常关键的参数,它也是辐射参数研究中的难点之一。从现有的文献来看,颗粒材料的复折射率反演方法与块状或薄膜材料有很大的区别。目前采用最多的就是通过实验的方法得到材料的透射率光谱,再用合适的反演模型来拟合该光谱,当反演的计算值与实验值高度吻合时,就能得到复折射率光谱。本文利用电悬浮原理,将颗粒悬浮于空气介质中来测量颗粒的透射率光谱。经过理论与实验的分析,都证明了外加直流静电场对颗粒辐射测量没有影响。改变实验装置中上极板间隙以及喷粉次数,可以达到调节颗粒层厚度与颗粒浓度的目的。实验结果显示,颗粒层厚度的增加会明显增强消光作用,而受制于颗粒的荷电能力,增加喷射次数无法增多悬浮室中受电场力影响的颗粒数量,消光作用仅有微弱的提高。在理论上,本文采用了基于Mie理论与Kramers-Kronig色散关系相结合的反演程序,将实验中得到的透射率光谱与用Malvern粒度仪测量并拟合的粒径对数正态分布函数作为输入值,以L p、n (∞)和F系数为自变量对实验光谱进行拟合,反演得到复折射率光谱。经过计算发现:(1)当限定了自变量参数的搜索范围后,反演的结果没有出现多解的问题。(2)粒径分布函数中的颗粒几何平均直径rg和几何平均标准差σg在一定范围内变化时, rg和σg对反演出的复折射率虚部光谱没有非常明显的影响,但复折射率实部光谱曲线均随着两个参数的增大而抬高。通过对同一颗粒样品、在三种不同实验条件下测得的透射率光谱进行反演,得到了三组相似的复折射率光谱曲线,这证明该反演方法具有相当的可靠性。