本文叙述了一种名为故障模拟法的大规模集成电路的测试程序的编制、生成方法，这种方法主要是解决了随着大规模集成电路的发展，单个电路本身的输入／输出管脚数量不断增加，带来测试矢量呈现指数增长，从测试时间和测试成本上考虑，使用传统的穷举法已经不可能编制、生成出符合要求的大规模集成电路测试程序的问题。与传统的穷举法相比，在不降低测试结果的准确性和可靠性的同时，使编制程序所需要的测试矢量控制在可以接受的水平上。 在实际工作方法方面，本文从理论上证明了该方法的有效性，同时从硬件和软件两个方面介绍了使用故障模拟法如何编制规模集成电路的测试程序。并且在大规模集成电路测试领域引入了随机抽样检验的概念，解决了如何计算编制出的测试程序的故障覆盖率的问题，为编制出的测试程序的测试结果的科学性和有效性提供了有力的技术支持。 通过与其他大规模集成电路测试程序的编制方法相比较，以及测试结果的验证，我认为故障模拟法是现阶段比较符合我国国情的一种大规模集成电路测试程序的编制方法。