随着集成电路规模和复杂度的不断增大,在集成电路设计中,功能验证的作用越来越重要,是保证芯片流片是否成功的关键性因素。在功能验证中对寄存器的验证是保障后续验证工作顺利进行的重要一环,同时也是非常繁琐和容易出错的。本文的主要内容是利用VMM(Verification Methodology Manual)中的寄存器/存储器抽象层验证技术和解决方案——RAL(Register Abstraction Layer),开发出一种验证寄存器功能的自动化、可复用的方法,并利用此方法完成了项目中寄存器的验证。本文首先研究了VMM验证方法学和RAL,然后,在此基础上重点讲述了此验证方法的开发过程,包括RAL模型产生器的设计和验证方法的实现,接着,使用此方法完成了对项目中寄存器的验证,包括RAL环境的集成,验证寄存器的初始值、复位功能、读写属性、耦合关系,最后给出仿真波形、验证结果和覆盖率统计,其中验证结果全部passed,覆盖率达到了100%。