本论文的实验工作是在中科院近代物理研究所320kV高压平台上完成的。实验中，采用不同能量(1500-3500keV)、不同电荷态(10-30)Xeq+离子分别轰击Mo靶、Ta靶及Nb靶。使用Si(Li)探测器测量了Xeq+离子轰击各靶过程中诱发的特征X射线，其中包括靶原子和束流离子的。　　论文首先利用准分子框架内的分子轨道跃迁理论对特征谱对应的内壳层空位的电离过程进行了定性解释。结果表明，准分子轨道跃迁可以很好的解释低能重离子与固体表面相互作用中的内壳层过程，即使对Xe+Ta构成的联合原子序数为127的超重元素体系也很适用。　　其次，将实验中X射线的发射截面与二体碰撞模型预言的理论发射截面进行了定量的对比。结果表明，实验截面与理论截面基本一致。　　此外，在Xeq+离子轰击Nb靶的实验中还观察到了电离截面对电荷态的新依赖行为——靶的电离截面随入射电荷态的增加先上升后下降。本文将该现象称为电荷态对电离截面的双重效应，并将这一效应的出现归因子空位数目和电子束缚能随入射电荷态的同时改变。