电子器件(包括半导体分立器件和集成电路)的内部噪声(特别是低频噪声)和常规电参数是制约器件性能、灵敏度和准确度的关键指标,同时也是表征器件质量和可靠性的敏感参量。因此,对电子器件内部噪声和常规电参数的检测与分析有着重要的工程意义。本文采用以微机为测试平台的“虚拟仪器”方式,搭建了电子器件测量分析系统。它有以下好处:性能价格比高、功能覆盖面广、系统可升级性好。本文根据实验室的电子器件低频噪声和常规电参数实际测试分析的需要,对实验室的原噪声采集分析软件进行了升级,并且研制了一套基于虚拟仪器的电子器件电参数测试分析系统。文章的主要工作成果包括:1、找出了原噪声分析系统采集信号不连续的原因,并且基于最新的数据采集卡的驱动,实现了噪声信号的连续采集,保证了信号的正确性。2、对噪声分析系统加入了硬件保护功能和“软滤波”功能,并且使原系统合理的利用了计算机资源。3、以KEITHLEY公司生产的238源测量单元和MOTECH公司生产的lps304为测量工具,基于计算机,通过GPIB卡和RS-232总线实现了对两台仪器的控制。以目前较常用的电子元器件的电参数测试需要为主线,实现了二极管、三极管、场效应管等器件的电参数的测试和分析。4、将自行研制的电子器件电参数测试分析系统的实际测量结果与国外通用仪器测量结果相比较。对比结果表明,本系统测量结果有着很好的可信度,可以用于电子器件电参数的测量和分析。