本文对激光散斑无损检测系统中的条纹图象滤波算法、相位去包裹算法和缺陷识别算法进行了研究。对应用于本系统的一些现有算法的实现进行了优化，此外在分析和比较现有算法的同时也提出了一些新的算法。 (1)对于滤波算法，本论文比较了各种滤波算法的性能。最后，考虑到本系统采用了相移技术，因而对滤波的要求不是很高；检测系统对精度要求不高，而对效率的要求比较高；并且实验中得到的条纹图像较差，实际上任何一种滤波方法都无法信任，因此本系统采用了最简单的均值滤波。为了提高其效率，对其实现进行了优化设计，将其重复计算降到最低，使其时间效率几乎与滤波窗口大小无关。 (2)对于去包裹算法，本论文比较了各种去包裹算法的性能。兼顾时间效率、结果准确性和实现复杂性考虑，最后对基于可靠度的去包裹算法进行了改进，将去包裹顺序从局部(已去包裹部分)最优扩展到全局(整幅图像)最优，并利用基于聚类的去包裹算法对可能生成的多个去包裹区域进行合并得到最终结果。 (3)研究并提出了一些缺陷识别算法，由于介绍缺陷识别算法的文献极少，因此本文对其进行了探索性的研究。本文研究了各种缺陷的特征，提出了应当将缺陷分类识别，并根据其特征对缺陷分成A、B、C三类，即无条纹大缺陷、条纹缺陷和无条纹小缺陷。仔细地分析了各类缺陷的特征和识别难点，并研究了各种算法分别对其识别。对于A类缺陷，提出了基于调制度掩模、空洞填充和图象形态学的算法，并对空洞填充设计了高效率的实现。对于B类缺陷，本文采用去包裹技术将其转换为类似于C类缺陷的结果并和C类缺陷一起识别。对于C类缺陷，提出了基于峰值区域和谷值区域截取并在剪切方向上配对的算法。最后，对这些算法存在的问题进行了分析，并初步提出以后的改进方向。