目的：探讨新生儿低血糖反复发生的危险因素，研究低血糖脑损伤的危险因素及其临床特征分析总结。方法：回顾性分析新生儿低血糖患儿及糖尿病母亲新生儿的临床资料，依据不同的条件分为1.低血糖发生1次和低血糖反复发生组；2.低血糖脑损伤组和无脑损伤组；3.妊娠糖尿病母亲新生儿合并低血糖和无低血糖发生组；采用统计学方法进行对比分析。结果：患儿胎龄、出生体重、有无宫内窘迫、胎膜早破及孕母年龄在低血糖发作组比较差异有统计学意义；低血糖脑损伤组严重低血糖患儿例数高于无脑损伤组，最低血糖值低于无脑损伤组，低血糖持续时间高于无脑损伤组。远期随访低血糖脑损伤部分患儿头颅影像学正常，影像学有可逆现象，部分患儿出现脑瘫、癫痫等情况；糖尿病母亲新生儿两组患儿头围、孕周、是否多胎妊娠、宫内窘迫、母亲年龄、母亲妊娠高血压综合征、NRDS差异有统计学意义。结论：1.患儿胎龄、出生体重、有无宫内窘迫、有无胎膜早破以及孕母年龄均为新生儿低血糖患儿血糖反复发生的相关危险因素。2.症状性低血糖对低血糖脑损伤有一定提示作用，惊厥发生提示低血糖脑损伤发生，另一方面频繁惊厥将加重低血糖脑损伤。患儿胎龄、出生体重、严重低血糖、最低血糖值、低血糖持续时间、惊厥均与新生儿低血糖脑损伤发生相关。3.低血糖脑损伤部位以双侧顶枕叶后部脑组织为主，特征性为双侧对称性分布，部分患儿病变广泛累及皮层。4.随访低血糖脑损伤患儿9例，5患儿生长发育基本正常；4例发生脑瘫和（或）癫痫。5.多胎妊娠、宫内窘迫、母亲年龄、母亲妊娠高血压综合征均与妊娠糖尿病母亲新生儿发生低血糖相关。