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首先对检测系统的原理和设计进行了一定的研究,然后采用该系统对半导体激光源的方向漂移角进行了测量,最后通过进一步测量,初步研究了光学器件对光束方向稳定性的影响.
光盘刻录设备中光学系统检测设备的研究
【摘 要】
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首先对检测系统的原理和设计进行了一定的研究,然后采用该系统对半导体激光源的方向漂移角进行了测量,最后通过进一步测量,初步研究了光学器件对光束方向稳定性的影响.
【机 构】
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中国科学院上海光学精密机械研究所
【出 处】
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中国科学院上海光学精密机械研究所
【发表日期】
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1997年期
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