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目的：运用三维有限元分析法(three-dimensional finite element method,FEM)分析,当短种植体联合上颌窦内提升(maxillary sinus lift)运用于上颌后牙区垂直骨量高度不足的情况时,不同种植体冠根比(crown to implant ratio,C/IR)以及不同松质骨密度,是否会影响种植体以及相应的骨质区域所受应力情况,从而对种植修复设计起到临床指导作用。材料及方法：(1)以BICON6x5.7mm种植体为样本,运用UG NX8.5软件,绘制含有短种植体的高度吸收的上颌窦区骨块模型。上颌窦区分为三个区域分别为皮质骨区,松质骨区及骨替代品区,种植体底端离上颌窦底为1mm, C/IR分别为1：1、1.5：1、2：1、2.5：1、3：1,相应松质骨密度分别为二类、三类、四类的5组模型。(2)分别对5组模型施加垂直向和45度斜向的力量,大小分别为150N和50N.(3)运用三维有限元分析法,通过ANSYS WORKBENCH 16.1软件对五组模型进行分析,得到上颌窦三个区域及种植体的应力分布情况。结果：(1)在垂直向力加载的情况下,各组模型的应力分布情况大致相同,种植体的应力分布主要位于种植体颈部与基台的连接处,上颌窦区骨块的应力分布主要位于与种植体相接触的颈部及上颌窦底的皮质骨。随着C/IR的增大及骨质密度的降低,种植体及皮质骨,松质骨,骨替代品的应力峰值没有明显的改变。(2)在斜向力加载的情况下,各组模型的应力分布情况大致相同,种植体的应力分布位于受力侧种植体颈部与基台的连接之处,上颌窦区骨块的应力分布主要位于受力侧与种植体鳍状螺纹相接触的区域。随着C/IR的增大种植体的最大应力峰值明显升高,皮质骨的应力峰值也有增高。随着松质骨骨密度的降低,皮质骨承担更大的应力。结论：将短种植体联合上颌窦内提升运用于上颌后牙区垂直骨量高度不足的情况是可行的。(1)C/IR的大小在种植体受到斜向力时对种植体及相应骨质区域是有一定的影响的。特别是对种植体基台连接处的应力峰值增大比较明显。(2)当松质骨的密度降低时,对种植体的影响不大,但其松质骨的应力峰值下降,而皮质骨的应力峰值升高,增加了种植体颈部皮质骨吸收的可能性。所以在临床种植修复中,可以将C/IR设计在合理范围内,并对上颌后牙区骨质不佳的患者做到降低牙尖斜度,减小牙冠颊舌径等措施来减少侧向力的影响。但是由于三维有限元分析法的局限性,我们还需进行相应的临床观察及研究。