信息存储技术发展是信息社会进步的基础，也是研究的热点。传统磁存储技术存储密度已经接近理论极限，光盘存储技术也因为衍射效应的限制，进一步提升存储密度空间逐渐缩小。而基于光致聚合物材料的体全息存储技术因为其更大的存储密度潜力以及相对较低的成本，成为一种具有竞争力的信息存储备选技术。光致聚合物是一种大幅面厚度相对较薄的材料，适用于全息图部分重叠的复用存储技术，国际上各个研机构和公司已经开展基于聚合物材料的全息存储系统研究。美国Inphase公司研制出采用polytopic复用方法的存储系统、斯坦福大学和日本Optware公司提出采用散斑调制光束位移复用的同轴系统。但是散斑调制光束存储全息图噪声很大，严重干扰存储信息。而使得重叠在一起记录的全息图，以均匀的衍射效率读出也是一个重要问题。为了实现有效信息记录的全息存储，有必要对参考光进行优化。我们先前的研究表明振幅分布符合平面波特点，而位相受到一定调制的参考光可以获得较好的存储质量；而且虽然位相调制参考光全息存储基本原理基于与材料厚度正相关的布拉格体光栅，但是复用特性不再受限于材料厚度，可以获得更高的复用密度。因此我们需要对这种位相调制参考光的全息存储性能进行研究，全息图部分重叠复用的等衍射效率问题也在位相调制参考光全息存储性能研究过程中得到解决。对于随机位相调制参考光，其复用特性已经得到充分的研究，我们进一步研究了随机位相调制光束全息记录图像质量的动态变化。在进行实验研究之前有必要对中科院理化所提供的自由基双单体光致聚合物材料全息性能进行测试。我们进行了全息记录和暗反应的实验，结合简化扩散理论模型进行了数据拟合，得到了反映材料全息性能的各个参量。接着，模拟随机位相调制参考光复用存储的情形，进行了光致聚合物中全息存储再现图像质量的动态特性研究。以信噪比损失作为图像质量变化的衡量指标，进行了暗增长和均匀后曝光过程监测图像实验，记录参考光和均匀照明光均采用随机位相调制参考光。实验结果表明，在暗增长和均匀后曝光过程中，再现图像强度和质量经历先增长后下降的动态过程。以噪声光栅的形成和发展对实验结果进行了初步的解释。用信噪比损失不大于3dB作为判据考察了全息图对暗反应和均匀后曝光过程的宽容度，对于不同的记录条件确定了暗反应和均匀后曝光过程的特征时间。在特征时间内，图像强度下降不到20%，图像质量也是可以接受的。可以根据特征时间控制全息存储过程时间，进行能够读出有效信息的全息存储。也可以根据对全息存储质量的不同要求，经材料测试实验得到相应的特征时间，提供了一种控制全息存储质量的途径。接着，以随机相调制参考光位移复用存储为例，我们建立了适用于全息图部分重叠复用存储的等衍射效率曝光时序模型。首先，利用简化扩散模型推导出描述全息图部分重叠复用存储过程折射率调制度随时间变化的解析式；接着，将等衍射效率问题转化为具有三个限制条件的优化问题，计算出了曝光时序等衍射效率曝光时序并且对读出图像衍射效率进行数值模拟，最后我们在双单体光致聚合物材料中进行了随机位相调制参考光位移复用存储实验，考察最终读出的全部图像的强度。数值模拟计算结果和实验结果都表明，在等衍射效率曝光时序的引导下，复用存储全息图衍射效率均匀一致，使得最终读出图像的强度达到均匀相等的效果，证明了曝光时序的有效性。对于确定性位相调制参考光，一般指正交位相编码参考光，传统复用方式实际上是在用正交位相编码参考光的傅里叶谱进行全息存储。数值模拟表明，在这种复用方式下，参考光波面振幅有剧烈起伏，位相在-到之间有连续分布，这会导致将额外噪声带入记录全息图中，影响存储质量，同时参考光正交性受到削弱。为此，我们提出正交位相编码参考光成像方式用于复用存储，即将受到位相码调制的光束通过4f系统成像到记录介质平面，保持振幅符合平面波特点，位相仅有0、位相分布。我们对这种成像方式应用的正交位相编码参考光全息性能进行了研究。在0位置处记录一幅全息图，参考光位移扫描读出。数值模拟和实验结果都表明，当正交位相编码参考光偏离记录位置时，读出图像强度急剧下降，随后趋于水平，得到了位移读出扫描峰。数值模拟和实验结果充分表明正交位相编码参考光具有位移复用特性。