随着技术的进步，人们对产品的可靠性要求越来越高，产品的可靠性问题越来越受到重视。传统的可靠性评估方法因为需要大量的寿命数据，试验周期较长，已经难以满足实际需求。一种基于产品失效机理和性能退化过程之间的联系而建立起的评估产品可靠性的方法，不需要失效数据，试验周期短，为解决可靠性问题提供了行之有效的途径。本论文主要针对意法半导体（ST）公司生产的大功率晶体管BUX10进行退化试验，设计了BUX10的退化试验方案，通过其退化轨迹模型进行了可靠性分析研究，并提出了基于退化数据的大功率晶体管BUX10的剩余寿命预测方法。为了使分析结果更精确，本文还运用贝叶斯方法进行了分析，并用实际试验数据分析了BUX10的可靠性。论文的主要研究工作如下：(1)对常见的基于性能退化的可靠性分析方法进行了研究，分析了可靠性退化的相关理论，总结了基于性能退化的可靠性分析的一般步骤。(2)研究了BUX10的结构特征和失效机理，据此建立了两种BUX10的退化试验方案，即长试试验方案和加速退化试验方案，并对长试退化试验进行了深入分析。(3)针对试验获取的进口大功率晶体管BUX10的长试试验数据，借助于软件Matlab2007分析其可靠性。(4)研究了用于可靠性分析的贝叶斯理论，运用贝叶斯方法分析了融合新样本后的退化数据,得到了其可靠度值。本文旨在通过对试验费用较高的长寿命的进口大功率晶体管BUX10进行可靠性研究，估计其失效寿命及其它可靠性特征量，从而为小样本情况下电子元器件的可靠性评估提供一条有效的途径，研究结果对实际工程也具有一定的指导意义。