为适应因集成电路芯片特征尺寸减小、集成度大幅提高而对高端测试技术提出的新要求,本文在Intelli J IDEA平台使用Java开发语言完成了对集成电路测试上位机软件的设计与开发,设计了一种可设置测试工程上位机软件。该软件可为用户提供自由控制测试流程和自动测试,按要求对测试数据分析保存,完成芯片测试参数设置,控制下位机软件实现芯片测试,实现人机交互界面并获取测试结果等功能。论文阐述了集成电路基本测试原理,对人机交互界面、性能和功能方面进行了需求分析,采用SSM框架使用插件方式设计软件结构,分析通用参数和特定参数的区别,对测试步骤和测试参数进行抽象类型描述,解决因参数众多引起代码紊乱等系列问题。根据有向树状图设计提出一种可设置测试工程模型,用以控制测试流程。为进一步优化测试软件,在测试工程中设计了调试功能模块,采用异步方式实现调试,对运行中的测试工程进行控制。为避免用户在进行测试流程设计时输入错误参数形式,设计了等式解析功能模块对参数类型进行判断。论文通过黑盒测试和白盒测试方式对测试软件性能进行了测试,测试结果验证其完成了性能指标,对国产APM32f103c8t6芯片进行实例测试,对已完成功能进行连续测试,测试结果表明,该软件结构稳定,各项功能均已实现。