光纤光栅作为无源光纤器件,由于其优秀的抗电磁干扰能力、体积小、灵敏度高和操作灵活等特点,被广泛用于各种传感领域。实际上,普通的光纤光栅会随着温度不断升高发生衰减擦除的现象,因此高温环境成为了光栅传感测量的一大掣肘。再生光纤光栅是在普通Ⅰ型光栅的基础上得到的耐高温光栅,由于再生光纤光栅制作简单且价格低廉,近年来逐渐成为了传感领域的研究热门。再生光纤光栅最主要的研究内容之一在于如何提高再生光栅的再生率,以获得更高反射率。对于同类光纤光栅在相同条件下再生,现在的结论认为种子光栅的反射率越高,再生光栅的反射率越高。然而该结论具有很大的不确定性,光纤光栅反射率可以通过改变光纤光栅的折射率调制和长度来调整。再生过程本质上是折射率调制的再生,而折射率调制强度对再生的影响是当前没有被直接回答的问题。本文围绕着该问题设计了光栅的折射率调制分布式测量的方案,并结合切趾光栅,利用光学低相干反射计的分布式测量方法,展开了对光纤光栅的折射率调制的研究。本论文的主要工作如下:首先,介绍了光纤光栅的理论,利用合适的种子光栅进行了再生,并对再生光栅的温度响应与稳定性能进行了测试,记录再生光栅的反射率变化情况。其次,提出了一种新式的光纤光栅折射率调制分布式测量的方案,介绍了光学低相干反射计的工作原理。利用光栅各个位置的背向散射,形成了沿轴方向上的分布式干涉峰。推导得到了干涉强度与折射率调制强度之间的线性关系。实现了对光栅的折射率调制分布式的测量,利用仿真验证了测量方式的可靠性。然后,结合切趾光栅沿轴向折射率调制呈特定函数变化的特点,利用光学低相干反射计,得到了切趾光栅轴向分布的折射率调制,进而对再生强度与光栅折射率调制的变化关系进行了研究,并得到光栅的折射率调制等比再生的结论。通过仿真对光栅的折射率调制再生比率进行了模拟并得到验证。最后,研究了整个再生过程中再生速度快慢的结果,得到了光栅不同位置折射率调制再生速度相同的结论,并利用再生过程中变化的光谱进行仿真计算,得到了光栅再生过程中的折射率调制强度。