随着信息和电子技术的飞速发展，我国的军事装备研制走上了快速发展的道路，导弹武器的种类日益增多，性能日益完善。在新型导弹的研制过程中，发控系统是研制工作的核心。为了验证发控系统的功能是否满足设计要求，需要研制相应的检测装置。现有的检测装置多为针对某一特定型号发控系统的专用设备，通用性差、研制周期长。本论文在深入分析了军用自动测试系统发展现状后，采用模块化结构完成了基于VXI总线的导弹发控系统通用检测装置研制，改变了一种检测装置只能检测一种型号导弹发控系统的局面，在信号转接适配器组合的配合下实现了检测装置的通用性。　　论文首先介绍了军用自动测试系统发展现状，包括军用测试系统的发展进程、体系结构、总线基础，同时对导弹发控系统检测装置的组成部分和发展方向进行了阐述。在对比分析GPIB、CPCI、VXI、LXI等标准总线优缺点的基础上采用模块化体系结构完成了导弹发控系统通用检测装置的总体方案设计。然后，根据装置中各模块的技术指标要求介绍了VXI机箱、零槽控制器、数字示波器和数字多用表等模块的选购方案，以及继电器、多路A/D、高速A/D、通讯等模块的研制方案，并对各功能模块中涉及到的关键技术：回读电路设计、驱动电路设计、模拟隔离、量程选择、SDRAM控制和FPGA内部逻辑设计进行了详细阐述。对用于实现检测装置通用性的转接适配器组合设计进行了详细介绍，包括组成部分、设计方法和安装形式，对组成转接适配器组合的接收器、接收器模块、适配器模块和可互换适配器的种类、选型方法和信号分类原则进行了详细阐述。在LabWindows/CVI虚拟仪器环境下介绍了各功能模块的驱动程序开发，包括驱动程序的设计原则和开发流程，对各功能模块的驱动函数进行了详细介绍，并为检测装置编写了自检程序。最后，在完成检测装置的软硬件设计后，根据设计需求对装置进行了全面测试，并对出现的问题进行了分析和改正，最终交付使用。　　经过与导弹发控系统实物联调，检测装置的各项测试功能满足设计要求，实现了通用化的目标，该装置已完成调试并交付使用。