目的 糖调节受损(IGR)是介于正常糖耐量与糖尿病之间的一种代谢异常状态,分为空腹血糖受损(IFG)和糖耐量减低(IGT)两种类型。目前认为,2型糖尿病的主要病理生理机制是胰岛素抵抗和β细胞功能异常。但在IGR阶段,存在何种程度的胰岛素抵抗和β细胞功能异常,IFG、IGT之间是否存在差异,目前结论不一致。我国人群有何特点,也尚无定论。且以往研究多采用口服糖耐量试验的衍生指标或应用稳态模型评估指数来间接判断胰岛素抵抗程度和β细胞功能,还需进一步通过“金标准”来验证。本研究是运用测定胰岛素抵抗“金标准”的高胰岛素正葡萄糖钳夹技术和能够精确测量胰岛素一相及二相分泌的静脉葡萄糖刺激胰岛素释放试验,研究我国孤立IFG、孤立IGT及联合IGT人群的胰岛素抵抗和β细胞功能的程度,以探讨我国IGT、IFG人群的病因机制,为糖尿病的三级防治提供试验依据。 对象 31例沈阳地区研究对象,经口服糖耐量试验,依据1999年WHO推荐的诊断标准,分为正常糖耐量(NGT)组10例、孤立IFG组7例(I-IFG FPG6.1～6.9mmol/1,2hPG<7.8mmol/1)、孤立IGT组7例(I-IGT FPG<6.1 mmol/1,2hPG 7.8～11.0mmol/1)和联合IGT组7例(C-IGT FPG 6.1～6.9mmol/1,2hPG 7.8～11.0mmol/1)。 方法 每个研究对象分别行高胰岛素正葡萄糖钳夹试验和静脉葡萄糖刺激胰岛素释放试验。