随着光电技术的发展，半导体激光器(LD)的制作工艺的完善和成本的降低，半导体激光器在光纤通信、精密加工与测量、医疗、生物工程等技术领域中得到了广泛的应用。在这些领域中，使用者对半导体激光器的各项性能指标越来越关注，使得对其参数检测也显得尤为重要。现今的半导体参数测试仪国外产品占多数，且普遍价格昂贵。本文提出了一种以ATMEL公司生产的ATmega169单片机为控制核心的半导体参数测试系统较好地解决了上述问题。　　 以ATmega169单片机作为整个操作系统的控制核心，利用其内部A/D转换器实现模数转换，利用MAX518电压输出型D/A转换器实现数模转换。下位机方面，设计并实现了对半导体激光器两端的电压、通过的电流、输出功率的实时测量；上位机方面，用Visual Basic语言编写了数据程序，对下位机传输上来的数据进行实时处理，并将处理的结果在计算机屏幕上以曲线的形式显示。单片机和计算机之间采用RS232串行口进行通信，这样硬件部分和计算机在电气上只有数字信号联系，提高了整个系统的可靠性。　　 该测试系统能够较好地对半导体激光器的参数进行测试，并能绘制测试半导体激光器的V-I、P-I参数曲线图，根据曲线图对半导体激光器的质量进行评估。