论文部分内容阅读
电连接器作为一种基础元器件,其主要作用是实现电信号的传输和控制,在型号系统中应用广泛、数量众多、地位重要。为了满足型号系统日益提高的可靠性要求,系统对电连接器的贮存寿命要求已达到20~30年。目前在评估电连接器的贮存寿命时,主要考虑了温度对其性能退化的影响,尚未考虑测试过程中插拔的影响。本文以型号上常用的Y11P-1419型电连接器为研究对象,在分析电连接器的贮存环境效应和失效机理的基础上,通过加速退化试验揭示了插拔对电连接器接触性能的影响规律,并利用试验数据对考虑插拔的电连接器贮存可靠度和贮存寿命