本文首先介绍了国内外智能卡测试的特点、发展现状和前景,提出智能卡抗干扰测试系统研究的必要性。在分析智能卡故障原因的基础上,结合智能卡可靠性预计理论,提出采用故障注入方式进行干扰的测试方法。在该测试方法的基础上,将接触式智能卡的抗干扰测试系统划分为接触式干扰注入和辐射式干扰注入两类。详细介绍接触式抗干扰测试系统的设计方案,从硬件和软件设计角度对自主研发的接触式故障注入器进行剖析。说明接触式故障注入器和测试主机之间的通信协议,对测试系统的上层软件设计和整个系统的测试流程都进行了详细的阐述。接触式抗干扰测试由信号中断测试、供电稳定性测试和磨损测试三部分组成。对辐射干扰测试和接触式抗干扰测试的数据进行整理分析。针对每种测试,都给出相关的测试结论,并指出该种测试对于提高智能卡可靠性的必要性。研究结果表明该测试系统可以有效地评估智能卡防御旁路攻击的能力和抗干扰可靠性,能够及时有效地为设计人员提供反馈信息,为智能卡抗干扰测试提供了一种方便、经济、较为高效的测试方法,同时也为抗干扰测试的自动化研究提供了一种可行方案。