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针对薄片材料的电磁屏蔽效能测试，主要有法兰同轴法和窗口法等，但是前者在频率扩展前的频率上限为1.5GHz，后者测试成本高、测试时间长。本课题旨在研制一种适用于1GHz～18 GHz频段的双焦点法材料屏蔽效能测试装置，并进行相关测试技术的研究。 首先，双焦点平面腔（DFFC）的内部是一个椭圆，发射端激发的电磁波经过椭圆壁面的反射汇聚到接收端上。通过分析其内部的电磁场边值问题来探究腔体的谐振特性。研究发现，与双焦点平面腔的周长和离心率等因素相比，腔体高度是影响其谐振频率的主要因素。经过腔体和探针的尺寸优化后，确定腔体高度为6mm，长轴长260mm，离心率0.46。两探针位于椭圆焦点处，其长度为6mm，直径为1.5mm。经实际测试，DFFC的驻波比小于6.8，加时域门后的S21大于-10dB。其次，在时域和频域中研究DFFC的反射和传输特性。利用时域门技术可以有效滤除直射波和多次反射波。 最后，评价双焦点法材料屏蔽效能测试系统。该系统适用于1 GHz～18 GHz频段，在60dB的动态范围内测量不确定度优于±3dB，系统重复性误差和复现性误差分别小于1.2dB和1.3dB。