集成芯片的可测性设计研究

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该文的研究即是针对集成芯片中的可测性设计问题进行的,主要包括以下几个方面的工作:首先讨论了集成芯片中的可测性设计的重要性及其主要设计方法,并对这几种设计方法的优缺点进行了简单的总结.然后针对在CETC58所进行的DSP设计项目,结合自己的体会,对其中的可测性设计进行了一些总结.重点介绍了DSPC30-40芯片中的全扫描设计的可测性设计思想,具体分析了其中的可测性设计的控制部分逻辑.最后对DSPC30-40的可测性设计方法和IEEE 1149.1标准进行了简单的比较.最后在作者以前工作的基础上,参考一些文献,对一个容量为1K×16位的嵌入式SRAM进行了可测性设计.
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