随着半导体工艺水平的不断提高，SoC设计规模及复杂度的不断增大，芯片上市时间(time-to-market)的不断缩紧，验证工作面临的挑战越来越巨大。而且验证的发展远远落后于集成电路设计能力的发展，芯片首次流片成功率低，芯片研发周期长，都是目前业界普遍存在的现象。如何在保证验证质量的前提下提高验证工作的效率，缩短芯片研发周期，这已成为整个业界最关注的问题，也是本论文研究的重点。　　 作者结合在学校实验室及公司实习期间做过的项目，并通过对业界广泛采用的验证方法学VMM(Verification Methodology Manual)、OVM(Open Verification Methodology)和最新的验证方法学UVM(Universal Verification Methodology)的研究，最后提出了一种基于UVM的高重用性、可重构的验证系统，它具有结构层次清晰、重用性强、自动化程度高等特点。该验证系统结合了业界主流的验证技术，即通过带约束的随机方式产生测试激励、断言验证和功能覆盖率驱动的验证。此外，该验证系统还包括思路验证方法，思路验证贯穿于整个验证流程，在项目早期进行思路验证有利于控制项目风险，使得风险在项目进程中不断收敛。　　 作者以在公司实习期间的一个CMMB项目中UART Controller的验证为具体例子，详细介绍作者所提的基于UVM的验证系统的应用及取得的验证效果，主要包括基于UVM的验证平台的组成、先进验证技术在该验证系统上的实现、覆盖率结果和仿真结果、思路验证在该项目上的应用等几个方面。　　 此外，作者通过在多个项目中实践经验的不断积累及对验证方法学的研究，在本论文中提出以下两方面的创新点：　　 1)维度分析方法：它是思路验证中采用的主要方法之一，主要用于分析已知测点之间的关系，实现测点不同维度的组合，有助于将测试激励考虑全面，对产生随机测试激励的约束条件的分析起到重要的作用。　　 2)资源结构化分析方法：它是一种实现由设计spec到验证点testpoint的分析方法，它的好处是能够将资源之间的关系考虑全面，尤其对功能验证起着重要的作用。