论文部分内容阅读
引言通常,人们通过分析ACTFEL器件的电荷一电压(Q—V)和电流一电压(I—V)特性来确定器件的电学性能。前不久,我们曾报道过一种电容一电压(C—V)技术,它可被用作分析ACTFEL器件电学性能的一种手段。在本文介绍的工作中,我们把C—V技术与SPICE模型等效电路结合起来分析ACTFEL器件的电学特性,希望能为研究ACTFEL器件的机制提供一种新的手段。