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分析了存储器芯片自动测试设备的一般构架、存储器件MCP最终测试的需求和特点，研究了最终测试成本的影响因素，提出了存储器件最终测试解决方案应达到的标准，进而分析了VERSATEST应用于MCP最终测试的构架优势，并深入研究了突破性关键接口技术——可编程接口矩阵（PIM）。实验表明，该解决方案可实现有效的MCP最终测试、减少测试时间、提高测试并行度，从而降低测试成本。