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为了与微电子加工工艺相结合,基于Ti氧化线的纳米电子和光电器件需要加工μm级长的Ti氧化线.Ti氧化线的直线度决定了加工的纳米器件的形状,从而影响纳米器件的工作特性.在偏置电压8 V、扫描速度0.1 μm/s的条件下,在7 μm×7 μm的范围内从左到右每隔1 μm加工了6条5 μm长的Ti纳米氧化线,研究了针尖磨损和压电陶瓷扫描器等因素对加工的Ti氧化线的直线度的影响,原子力显微镜(AFM)扫描范围的中间位置加工的Ti氧化线的高度和宽度的一致性与直线度最好.