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采用原位磷注入合成法在高压单晶炉内合成富磷的磷化铟（InP）熔体，并利用液封直拉法（LEC）生长出了掺硫及掺铁单晶材料。分别用快速扫描光荧光谱技术（PL-Mapping）、扫描电镜和傅里叶红外光谱对富磷单晶样品进行了研究。结果表明，在富磷条件下拉制的InP单晶会出现孔洞，致使在孔洞周围及远离区域晶体结晶质量和晶格常数存在差异，并且孔洞的存在会造成杂质分布的不均匀性。由于孔洞附近区域具有较高浓度的缺陷，而缺陷对杂质的吸引作用致使孔洞附近区域杂质浓度较远离孔洞区域有所增加。