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基于精确佛克脱线型的表达式，对于平板几何体和柱形几何体，计算了组成HeⅠ1 083．0nm共振线1083．034nm，1083．025nm和1082．908nm三条线的逃逸几率，同时计算了吸收原子在基态的原子数密度，分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响。理论分析和实验结果相一致，此计算对于探测太阳或其它天体中氦的浓度具有一定参考意义。