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介绍了探测系统的角向分辨率、径向分辨率、探测器空间分辨率、探测器阵列空间分辨率和探测系统的时间分辨率的设计原则.其角向分辨率由探测阵列数目决定,其径向分辨率由阵列中探测器数量决定.根据装置的具体条件,研制专用的条形探测器可以获得最佳的探测器空间分辨率和探测器阵列空间分辨率.研制宽频带放大滤波电路系统可以保证高时间分辨率.高质量反演探测系统可采用多角度多阵列方式或在刚体旋转假设下采用完美的单阵列方式.小装置上的高灵敏的反演成像探测系统可在中心电子温度约150eV,电子密度约1013cm-3的低参数条件下探测